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IXTQ 110N10P
IXTT 110N10P
Symbol
Test Conditions
Characteristic Values
TO-3P (IXTQ) Outline
(T J = 25 ° C, unless otherwise specified)
Min. Typ. Max.
g fs
C iss
C oss
C rss
t d(on)
t r
t d(off)
t f
Q g(on)
Q gs
Q gd
V DS = 10 V; I D = 0.5 I D25 , pulse test
V GS = 0 V, V DS = 25 V, f = 1 MHz
V GS = 10 V, V DS = 0.5 V DSS , I D = 0.5 I D25
R G = 4 ? (External)
V GS = 10 V, V DS = 0.5 V DSS , I D = 0.5 I D25
30
40
3550
1370
440
21
25
65
25
110
25
62
S
pF
pF
pF
ns
ns
ns
ns
nC
nC
nC
R thJC
0.31 ° C/W
R thCS
(TO-3P)
0.21
° C/W
Source-Drain Diode
Characteristic Values
Symbol
Test Conditions
(T J = 25 ° C, unless otherwise specified)
Min. Typ. Max.
I S
V GS = 0 V
110
A
I SM
V SD
t rr
Q RM
Repetitive
I F = I S , V GS = 0 V,
Pulse test, t ≤ 300 μ s, duty cycle d ≤ 2 %
I F = 25 A, -di/dt = 100 A/ μ s
V R = 50 V, V GS = 0 V
130
2.0
250
1.5
A
V
ns
μ C
TO-268 (IXTT) Outline
IXYS reserves the right to change limits, test conditions, and dimensions.
IXYS MOSFETs and IGBTs are covered by 4,835,592
4,931,844
5,049,961
5,237,481
6,162,665
6,404,065 B1
6,683,344
6,727,585
one or moreof the following U.S. patents:
4,850,072
4,881,106
5,017,508
5,034,796
5,063,307
5,187,117
5,381,025
5,486,715
6,259,123 B1
6,306,728 B1
6,534,343
6,583,505
6,710,405B2
6,710,463
6,759,692
6,771,478 B2
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